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CIFRE -Fiabilité des transistors en Nitrure de Gallium sur substrat Silicium M/F


STMicroelectronics


Location

Crolles, Isère | France


Job description

General information Reference 2023-33495 Job level 20 - Professional First Level Position description Posting title CIFRE –Fiabilité des transistors en Nitrure de Gallium sur substrat Silicium M/F Regular/Temporary Temporary Contract duration (nb of months) 36 Job description

POURQUOI NOUS REJOINDRE

Chez ST, nous sommes 48 000 créateurs et fabricants de technologies microélectroniques. Nous collaborons avec 200 000 clients et des milliers de partenaires. Avec eux, nous concevons et créons des produits et des solutions qui répondent à leurs défis et à la nécessité de contribuer à un monde plus durable. Nos technologies de pointe permettent une mobilité plus intelligente, une gestion plus efficace de l’énergie, de la puissance et un déploiement à grande échelle de l’Internet des objets (IoT) et de la 5G. ST a reçu les certifications Top Employer France et HappyTrainees 2022. Elles nous reconnaissent en tant qu’employeur de référence et démontrent notre engagement à faire de l’humain une priorité.

NOTRE FUTURE COLLABORATION

Vous intégrerez une équipe dynamique, au sein du département Device characterization & Reliability de ST Microelectronics et du CEA/LETI Votre sujet portera sur la fiabilité des composants en Nitrure de Gallium sur substrat Silicium: Ces transistors sont de très bons candidats pour les applications d’amplification de puissance aux fréquences millimétriques de type 5G (~30GHz), de par leur densité de puissance, leur efficacité énergétique et leur capacité d’intégration avec des circuits logiques. La technologie GaN/Si du CEA/LETI est actuellement à l’état de l’art mondial en bande Ka et vise les applications de 30 à 100GHz. Cependant, peu d’études existent à l’heure actuelle sur les mécanismes de dégradation propre à ce type de composants sur substrat silicium. Il est fondamental de mieux comprendre ces mécanismes d’usure, de les quantifier et de les modéliser afin de cerner le potentiel et les limites d’utilisation pour finalement offrir un dispositif fiable et performant. Votre objectif dans ces travaux de thèse est d’étudier le vieillissement de ces transistors en conditions opérationnelles , à l’aide de mesures DC & RF, liées à la physique du composant. Tout d’abord, différentes briques process seront évaluées séparément afin d’évaluer les mécanismes de dégradation observables et couplées aux analyses physiques disponibles au CEA LETI(MEB, TEM, EDX, SIMS, etc…). Ensuite, les composants seront soumis à différentes conditions de stress électrique afin de modéliser les dérives de leurs paramètres DC & RF. Enfin, l’ensemble de ces résultats seront utilisés pour expliquer et modéliser le vieillissement des transistors en fonctionnement large signal RF (stress RF CW).

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VOTRE LIEU DE TRAVAIL

Le site de Crolles compte plus de 4700 salariés venant de 45 pays différents et couvre 40 hectares. Située à 20kms de Grenoble et 40kms de Chambéry, Crolles est une ville dynamique et nature, alliant excellence technologique et qualité de vie. Position location Job location Europe, France, Crolles Candidate criteria Education level required 5 - Master degree Experience level required Less than 2 years Languages English (2- Business fluent) Requester Desired start date 01/09/2023


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